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MC016系列顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）

MC016系列（SGW X-4）

一、SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）應(yīng)用范圍：

   應(yīng)用范圍：測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測定。

二、SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）技術(shù)參數(shù)：

1、熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃

2、測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）

          ±2℃（在200～300℃時(shí)）

3、光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X